BeamMap2 XYZΘΦ 掃描狹縫光斑分析儀

產(chǎn)品特點(diǎn)：

190至1150 nm，硅探測(cè)器

650至1800 nm，InGaAs檢測(cè)器

1000至2300或2500 nm，InGaAs（擴(kuò)展）檢測(cè)器

光束直徑?100 µm至?3 mm（擴(kuò)展的InGaAs為1.5 mm）

實(shí)時(shí)±1 mr實(shí)時(shí)散度和指向測(cè)量精度

USB 2.00.1 µm采樣和分辨率

實(shí)時(shí)多Z面掃描狹縫系統(tǒng)

實(shí)時(shí)XYZ輪廓，焦點(diǎn)位置

實(shí)時(shí)M2，發(fā)散，準(zhǔn)直，對(duì)準(zhǔn)

產(chǎn)品參數(shù)：

BeamMap2 XYZΘΦ 掃描狹縫光斑分析儀

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北京?？扑间J光電儀器有限公司除了擁有一批專業(yè)的銷售工程師之外，還擁有一支強(qiáng)大的技術(shù)支持隊(duì)伍。每個(gè)團(tuán)隊(duì)成員都擁有多年的光電儀器銷售或技術(shù)支持經(jīng)驗(yàn)，團(tuán)隊(duì)成員的平均工作經(jīng)驗(yàn)超過8年。北京?？扑间J光電儀器有限公司不僅可以給客戶提供高品質(zhì)的產(chǎn)品，還可以根據(jù)客戶的應(yīng)用提供完整的解決方案和良好的售后服務(wù)。